Объединенным институтом ядерных исследований был получен патент на изобретение "Способ измерения интенсивности радиационного излучения неизвестного состава". Авторами патента являются Георгий Александрович Шелков, Даниил Дмитриевич Расторгуев, Владислав Андреевич Рожков и Елизавета Алексеевна Черепанова. Изобретение относится к измерению ядерных излучений, а именно к определению долей заряженных и нейтральных частиц в составе излучения от любых источников радиации. Способ измерения интенсивности радиационного излучения неизвестного состава заключается в пропускании радиационного излучения через как минимум два детектора и систему обработки. Детектирование производится во время облучения. Детекторы имеют чувствительные элементы разного объема. При помощи системы обработки, включающей микроконтроллер, по соотношению скоростей счета в разных детекторах определяют суммарную интенсивность радиационного излучения и соотношение вкладов заряженных и нейтральных компонент в измеряемом радиационном излучении. Существует достаточно много способов и устройств, позволяющих измерять либо суммарный поток и дозу от источника радиации или отдельные составляющие части этого излучения. При этом для измерения доз нейтронного излучения используются в основном пассивные системы обнаружения. Такие системы, как пишут авторы разработки, способны определять дозы с достаточной точностью, но только для ограниченных энергетических диапазонов нейтронного излучения. Кроме того, данные с этих систем анализируются только спустя время и после того, как детектор поступает в специальную измерительную лабораторию. В результате чрезмерное облучение обнаруживается, как правило, спустя заметное время. Разработка российских ученых решает обе этих задачи - определяет доли заряженных и нейтральных частиц в составе излучения от любых источников радиации, а также позволяет делать это непосредственно во время облучения. Ведущий научный сотрудник Лаборатории ядерных проблем ОИЯИ и соавтор изобретения Георгий Шелков рассказал о том, что новый способ измерения интенсивности радиационного излучения родился как побочный эффект в ходе проведения фундаментальных исследований на детекторе ATLAS Большого адронного коллайдера (ЦЕРН): "Идея появилась во время обработки данных от созданной в ОИЯИ системы мониторирования радиационного фона в шахте ATLAS - GaAsPix (детектора Большого адронного коллайдера). В ней использовались (совсем по другим причинам) пиксельные полупроводниковые детекторы разной толщины с сенсорами из GaAs - 1 мм и 0,5 мм. Из этого и появилась мысль использовать эту разнотолщинность для измерения соотношения заряженных и нейтральных компонент в радиационном фоне неизвестного состава. Идея простая, показалась красивой, и мы подали заявку", - рассказал он.
Сотрудники Сектора N 2 протон-протонных взаимодействий ЛЯП ОИЯИ, соавторы изобретения - В.А.Рожков, Д.Д.Расторгуев и Е.А.Черепанова. Патенту еще предстоит найти практическое применение. Потенциально на основе этой научной разработки могут быть созданы приборы для дозиметрии, в том числе переносные. Существенным преимуществом нового способа измерения по отношению к другим применяющимся сейчас методам является экономия времени: как на экспозицию (замер), так и на анализ полученных данных. Фактически, как указано в реферате к патенту, "изобретение решает задачу определения долей заряженных и нейтральных частиц в составе излучения от любых источников радиации непосредственно во время облучения". Объединенный институт ядерных исследований (ОИЯИ) был создан на основе Соглашения, подписанного 26 марта 1956 г. в Москве представителями правительств одиннадцати стран-учредителей, с целью объединения их научного и материального потенциала для изучения фундаментальных свойств материи. Институт расположен в Дубне, в 120 км от Москвы, в Российской Федерации. Сегодня Объединенный институт ядерных исследований является всемирно известным научным центром, в котором фундаментальные исследования (теоретические и экспериментальные) успешно интегрированы с разработкой и применением новейших технологий и университетским образованием. Членами ОИЯИ являются 18 государств.
Источник: jinr.ru поверка средств измерений получение сертификата соответствия
Comentários